[出展者名]

産業技術総合研究所
佐藤　泰

[出展テーマ]

放射能絶対測定に基づく校正法

[展示概要]

従来、不可能であった、密封点線源の放射能絶対測定を開発したことにより、PET装置等に対する校正用線源の不確かさを小さくすることができるようになります。また、施設間比較や症例比較等の基盤とすることができます。さらに、均一性の高い面状放射線源の製作法を開発しました。本技術により、最新の品質規制の非常に厳しいISO 8769:2010に対応した均一性の高い面線源を生産できますので、専用校正冶具と組み合わせることで、簡便に小さい不確かさでサーベイメータの校正が行えるようになります。福島県等で風評被害対策のために行われている汚染検査に用いられるサーベイメータにも適用可能です。